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【EDA 模擬】半導體設計到製程驗證的整合工程解決方案
【EDA 模擬】半導體設計到製程驗證的整合工程解決方案
發佈日期 2026-04-13
從光電設計到量測驗證的整合工程解決方案
在 AI、高速運算(HPC)與先進封裝快速發展下,您是否也面臨以下工程挑戰?
高頻 / 高速設計下,訊號完整性與電磁干擾難以預測
先進封裝(2.5D / 3D IC)帶來熱與結構可靠度風險
矽光子與IC整合設計門檻高,缺乏有效驗證流程
製程參數複雜,良率優化仰賴大量試錯
模擬與實測落差大,決策依據不足
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